赛谱司 Z-200C+ 全元素分析仪

产品简介：
Z-200 C+ 是世界上唯一能够分析碳素钢和不锈钢中碳含量的手持式分析仪。 Z-200 C+ 采用激光诱导击穿光谱技术(HH-LIBS)，使用波长为1064纳米，频率为50HZ的脉冲激光，,每束脉冲激光功率为5.5毫焦耳。内置分光仪，分析波谱范围为:190纳米-620纳米。使用内置氩气。最低可检测出0.015%的C。
 
软件特性
测碳分析软件包介绍：
l 不锈钢C含量检测专业分析曲线；可检测的元素包括：C, Si, Al, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Nb, Mo, Se, W.
l 铁基合金C含量检测专业分析曲线； 可检测的元素包括：C, Si, Al, Ti,V, Cr, Mn, (不同含量Fe ), Co, Ni, Cu, Nb, Mo, W, Pb.
l C 含量标配的检测范围 0-1%. 并提供扩展功能和建模软件ProfileBuilder 可在台式电脑或是平板电脑上运行，通过ProfileBuilder当C含量高于1%时候用户可以自建针对高含量C的分析曲线。
l 碳当量公式和计算(CE) , Mn:C比例及剩余元素总量
l 碳含量校验校准样品和谱线漂移校正样品.
任何现有的Z-200型都可以升级到Z-200 C或Z-200 C+。
 
性能概要
Z-200 C+ 能测不锈钢和低合金钢(LAS)中的低C，也能测量铸铁中的高C。 测试精度高达±0.005%，测试时间短，完成一个样品测试需约10-20秒。 即使区分C含量差异为0.1%的碳钢牌号，也只需10秒或更短的时间。详细的性能参见下表。
 


技术优势

规格

技术规格
重量	1.82kg带电池
尺寸	21*30*12（cm)
激发源	5-6 mj/脉冲，50赫兹重复频率，1064 nm激光源
光谱/范围	多CCD光谱仪:190 nm - 950 nm。
可用的应用程序	Alloy  Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode
光谱数据采集	在无门或门禁操作中收集的频谱数据，用户可设置的门控延迟
操作/氩气净化	在氩净化环境中操作的用户可更换的氩气瓶。氩罐在更换前提供大约600个测试。
分析范围	全元素分析
激光光栅	将激光对准需检测位置进行定向分析。光栅图形16 x 16网格，256个位置。
电子信号处理	ARM Cortex-A9双核/1.2 GHz内存：1 GB DDR2内存，1 GB内存
自动对焦	计算机控制手动或自动调整激光聚焦样本位置
供电	可充电锂电池，交流电源。
显示	5"彩色触摸屏智能手机显示屏-PowerVR SGX540 3D图形
数据存储	8 GB SD
通讯-数据传输	Wifi,蓝牙,USB。能连接到大多数设备，包括SciAps ProfileBuilder PC软件。
样品查看	在分析过程中，通过机载摄像机录制样本测试的视频或图片
校准检查	通过测试材料为316不锈钢的内部快门，完成自动校准和波长刻度验证
漂移修正	只有对精度要求比较高的测试需要运行漂移修正功能 。通过测试工厂提供的标件自动完成漂移校正
合金牌号库	包含500多个合金牌号。用户可以 运行ProfileBuilder软件自行添加合金牌号。
安全	密码保护
标准配件	防水外壳，2锂离子电池，充电器，USB线，标准用于导入的ProfileBuilder软件，编辑合金级库（合金应用），查看，保存结果，数据显示。腕带，工厂启动培训支持，终身免费软件 升级，备用的Prolene窗户。